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加栅场板耗尽型AlGaN/GaN HEMT器件结构及其制作方法

3932019/11/29
基本信息
  • 成果类型 高等院校
  • 委托机构 西安电子科技大学
  • 成果持有方 西安电子科技大学
  • 行业领域 微电子
  • 项目名称 加栅场板耗尽型AlGaN/GaN HEMT器件结构及其制作方法
  • 知识产权 发明专利
  • 项目简介 本发明公开了一种加栅场板耗尽型AlGaN/GaN HEMT器件结构及其制作方法,所述结构包括衬底、本征GaN层、AlN隔离层、本征AlGaN层、AlGaN掺杂层、栅电极、源电极、漏电极、栅场板、绝缘层、钝化层以及用于调节二维电子气浓度的硅化物。所述栅电极、源电极、漏电极以及绝缘层位于AlGaN掺杂层之上,硅化物位于绝缘层之上所述硅化物为块状,对绝缘层和AlGaN层引入压应力,硅化物之间的AlGaN层受到张应力,通过使块间距小于块宽度,使得AlGaN层总体获得张应力,从而使沟道中2DEG得到增强。
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交易信息
  • 意向交易额 面议
  • 挂牌时间 2020/11/29
  • 委托机构 西安电子科技大学
  • 联系人姓名 王小刚
  • 联系人电话 15802954800
  • 联系人邮箱 745490733@qq.com
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